![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
![Mozilla Firefox](../../ico/mf.png) |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=20081124002053<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
| Крицун І.І. Багатохвильова Х-променева дифрактометрія реальних кристалів : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / І.І. Крицун ; Чернівец. нац. ун-т ім. Ю.Федьковича. — Чернівці, 2005. — 20 с. — укp.Наведено метод встановлення абсолютних значень періодів гратки кристалів за допомогою багатохвильої дифрактометрії. На базі напівкінематичної теорії розсіяння X-променів запропоновано алгоритм і програмне забезпечення для розрахунку та графічного представлення багатохвильових дифрактограм азимутального сканування кристала навколо вектора дифракції первинного відбивання в кристалах різного ступеня досконалості. Розроблено спеціальні пристрої для підвищення роздільної здатності, експресивності та інформативності дифрактометричних X-променевих методів діагностики реальної структури кристалів. Завантажити
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134,022 + Шифр НБУВ: РА339662
Рубрики:
|
|
|