Експериментально перевірено та підтверджено унікальну чутливість повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) до дефектів у разі дифракції за Бреггом. З'ясовано динамічу природу збільшення ПІВЗ виключно за рахунок переважного зростання з посиленням порушень дифузної складової ПІВЗ за умови зменшення її когерентної складової як фактора, що обумовлює унікальну чутливість ПІВЗ до дефектів і чинника високої інформативності діагностики. У випадку дифракції за Лауе експериментально встановлено динамічну природу розсіяння, що проявляється у зміні знаку впливу дефектів на ПІВЗ під час переходу від "тонкого" до "товстого" наближення кристалів, що і обумовило її унікальну чутливість до дефектів. Створено й експериментально апробовано діагностичні моделі динамічної дифракції в ідеальних кристалах з порушеним поверхневим шаром (ППШ) та у кристалах, що містять випадково розподілені дефекти (ВРД) і ППШ. Розроблено нові принципи розподілу внесків ППШ та ВРД у ПІВЗ, що базуються на керуванні співвідношеннями між довжинами і глибинами екстинкції та абсорбції. Відзначено унікальність нового методу діагностики, що забезпечує кількісне визначення нанорозмірних характеристик порушеного шару на поверхні монокристала та випадково розподілених в об'ємі дефектів.

  Завантажити