| Рейда О.М. Інформаційно-вимірювальні системи видалення структурних дефектів зображення цифрованих багатошарових фотографічних матеріалів : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.11.16 / О.М. Рейда ; Вінниц. нац. техн. ун-т. — Вінниця, 2005. — 19 с. — укp.Запропоновано та реалізовано метод оцінювання структурних пошкоджень багатошарових фотографічних матеріалів (БФМ), що базується на властивостях теорії розсіяння та поглинання світла. На базі нового методу проведено дослідження структури дефектів і точності їх виділення на зображені цифрованих БФМ. Зазначено, що використання даного методу дозволило проводити виділення структурних дефектів зображення цифрованих БФМ з середньоквадратичною похибкою відхилення <$E symbol С 3~ roman мкм> і максимальною похибкою відхилення <$E symbol С 8~ roman мкм> у процесі цифрування БФМ апаратурою 8 мкм. Проаналізовано якість виділення структурних дефектів зображення за допомогою еталонного зображення металевої сітки, нанесеної на скло. Встановлено, що ефективність виділення структурних дефектів складає понад 90 % залежно від типу матеріалу та характеру пошкоджень. Для підвищення точності виділення розроблено класифікацію структурних дефектів БФМ. Запропоновано та реалізовано метод відтворення структурних пошкоджень сканованих БФМ, що базується на фізичних властивостях суб'єктів та їх структурному аналізі. Запропоновано та програмно реалізовано метод адаптації процесу відтворення структурних дефектів цифрованих БФМ залежно від типу БФМ та характеру пошкоджень, використання якого дозволило підвищити якість відтворення та адаптувати відтворене зображення до структури зображення, що сформоване в емульсійних шарах БФМ. Завантажити
Індекс рубрикатора НБУВ: З970.638 + Шифр НБУВ: РА335803
Рубрики:
|