Досліджено структури надпровідників плівок і монокристалів за допомогою електронної мікроскопії атомного розрізнення, рентгенівського методу, вимірів надпровідних властивостей, завдяки чому визначено роль дислокацій у збільшенні густини критичного струму та зменшенні поверхневого опору плівок. Наведено дані про наявність у тонких плівках YBCO великої кількості дислокацій та проаналізовано механізми їх виникнення. Встановлено, що дислокаційна субструктура в плівках прив'язана до кутових і польових залежностей критичного струму, зміни поверхневого високочастотного опору. Проведено оптимізацію структури на базі знайдених закономірностей її формування, що дозволило створити плівки з бажаними електро-фізичними властивостями.

  Завантажити