Розвинуто метод діагностування цифрових типових елементів заміни (ТЕЗ) з мікропроцесорними великими інтегральними схемами, який передбачає використання двох різнорідних джерел діагностичної інформації. Розроблено математичну модель цифрового ТЕЗ з урахуванням особливості функціонування мікропроцесорних великих інтегральних схем. Розглянуто види дефектів елементів ТЕЗ на структурному та функціональному рівнях, а також особливості транспортування діагностичної інформації у відповідні контрольні точки. З урахуванням визначених і обгрунтованих критеріїв доповнено й узагальнено правила формування тестових послідовностей, яких використано як базу під час розробки методики формування тестових послідовностей для діагностування цифрових ТЕЗ. Наведена методика передбачає скорочення кількості тестових послідовностей і наборів даних внаслідок використання двох джерел діагностичної інформації. Розроблено структурну схему пристрою діагностування цифрових ТЕЗ, описано призначення та функціонування його складових елементів.

  Завантажити