Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=20081124051216<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
| Поздєєв С.В. Удосконалення еліпсометричного методу для атестації модифікованих електронним променем поверхонь оптичного скла : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.11.13 / С.В. Поздєєв ; Нац. техн. ун-т України "Київ. політехн. ін-т". — Черкаси, 2002. — 20 с. — укp.Проаналізовано моделі механізмів впливу електронно-променевої обробки на поверхневі шари оптичних стекол з метою прогнозування властивостей виробів. Розроблено ефективні методи еліпсометричних досліджень даних зразків, визначено принципи еліпсометричного експрес-контролю якості поверхонь оптоелектронних скляних плат, отриманих після електронно-променевої обробки. Надано рекомендації щодо проведення еліпсометричних вимірювань для досягнення найбільш високої точності та продуктивності. Завантажити Індекс рубрикатора НБУВ: З844.16-06 Шифр НБУВ: РА319977 Пошук видання у каталогах НБУВ
Рубрики:
|
|
|