Досліджено механізми та закономірності формування профілів інтенсивності у дво- та багатохвильових областях дифракції широкорозбіжного пучка Х-променів кристалами алмазу, що містять нерівномірно розподілені за товщиною деформаційні поля, на підставі аналізу двохвильових ліній Х-променів та електронів розроблено метод визначення компонент тензора деформацій для оцінювання напруженого стану реальних кристалів кубічної сингонії, одержано значення статичних коефіцієнтів пружності кристалів алмазу, синтезованих у різних системах, а також їх значення для пірамід росту простих форм одного і того кристала. Із використанням методу Кікучі досліджено структурні й орієнтаційні характеристики зразків полікристалічних алмазних плівок, одержаних у НВЧ-плазмі за різних технологічних умов. Встановлено орієнтації за кристалографічними напрямками кристалітів, а також визначено центри локалізації максимальних напруг.

  Завантажити