Апробовано технологію контролю якості поверхонь кристалів. Практично реалізовано й апробовано поляризаційно-оптичний пристрій для визначення електрооптичних коефіцієнтів з вищою чутливістю та ширшим діапазоном вимірювань. Розроблено технологію оцінювання та покращання експлуатаційних характеристик п'єзоелектричних та електрооптичних пристроїв на базі вивчення анізотропії відповідних ефектів у їх кристалічних матеріалах. Розкрито конкурентноздатні алгоритми та пакети комп'ютерних програм для побудови даних поверхонь.

  Завантажити