|
|
РА310534
Бойчук, Вадим Олександрович.
Багатоаспектний метод та алгоритми генерації тестів комбінованого діагностування мікропроцесорних пристроїв [Текст] : автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.05 / Бойчук Вадим Олександрович ; Науково-виробнича корпорація "Київський ін-т автоматики". - К., 2000. - 19 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
"Київський інститут автоматики", науково-виробнича корпорація (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|