|
|
ДС85180
Кшевецький, Олег Станіславович.
Фізичні методи та пристрої для визначення реальної структури кристалів X-променевою багатохвильовою дифракцією [Текст] : дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Кшевецький Олег Станіславович ; НАН України та МОН України, Ін-т термоелектрики. - Чернівці, 2004. - 139 арк. - Бібліогр.: арк. 134-139.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут термоелектрики (Чернівці)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|