|
ДС67094 Бойчук, Вадим Александрович. Многоаспектный метод и алгоритмы генерации тестов комбинированного диагностирования микропроцессорных устройств [Текст] : дис... канд. техн. наук: 05.13.05 / Бойчук Вадим Александрович ; Технологический ун-т Подолья. - Хмельницкий, 2000. - 173 л. - л. 130-140Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Технологический университет Подолья (Хмельницкий)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|