ІС15153
Sickmann, Jan.
Ortsaufgelöste Messung der Gitterverspannungen in Halbleitern mittels Dunkelfeld off-axis Elektronenholographie [Text] : Diss. / Jan Sickmann ; Fak. Mathematik und Naturwissenschaften der Techn. Univ. Dresden. - Dresden, 2014. - 170 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 161-167

Рубрикатор НБУВ:
 В343.43,022 
 В338.28,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Голографія > 
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Technischen Universität (Dresden ). Fakultät Mathematik und Naturwissenschaften

Видання зберігається у :
Основний фонд