Пошуковий запит: (<.>U=В338.28$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 54
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
1.  |
1881/Т-181
Тангоффер, Людвиг.
Микроскоп и его употребление [Текст] : руководство к общей микроскопической технике для врачей и студентов: Пер. с нем. / Л. Тангоффер ; предисл. Н. А. Хржонщевский. - К. : Издание киевского книгопродавца Л.В. Ильницкого, 1881. - ХVІ, 231 с.: рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Хржонщевский, Н. А. (предисл.)
Видання зберігається у :
|
| 2. |
РА412170
Поливанов, В. В.
Стабилизация электрического питания электронного микроскопа [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук / В. В. Поливанов. - М., 1953. - 12 с. : рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 3. |
Глушков В.М./ВА71
Деркач, Виталий Павлович.
Электроннозондовые устройства [Текст] / В. П. Деркач, Г. Ф. Кияшко, М. С. Кухарчук ; АН УССР, Ин-т кибернетики. - К. : Наукова думка, 1974. - 268 с. : рис. - Бібліогр.: с. 251-266. - 1550 прим.
З дарчим написом В. М. Глушкову.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Кияшко, Галина Фёдоровна; Кухарчук, Маргарита Сергеевна; Академия наук Украинской ССР (Киев); Институт кибернетики (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 4. |
В277162/1
Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 .
Vol. 1 : General principles and applications to clean and absorbate-covered surfaces / with contrib. by D. Anselmetti [et al.]. - 2nd ed. - 1994. - XII. 280 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 20). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-58415-3. - ISBN 0-387-58415-3Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\; Anselmetti, D. (with contrib. by.); Behm, R. J. (with contrib. by.); van Bentum , P. J. M. (with contrib. by.)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 5. |
MFI3273/1-2
Sirringhaus, Henning.
Ballistic-electron-emission microscopy on epitaxial CoSi2/Si interfaces [Text] : diss. / H. Sirringhaus ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1995. - 124 p.: fig. - (Diss.ETH ; 11173)
2 mfisheРубрикатор НБУВ:
Дод. точки доступу:
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Видання зберігається у :
|
| 6. |
ІР8312
Construction and first experiments using Scanning Force Microscope [Text] / J. Lekki [et al.]. - Cracow : [s. n.], 1995. - 42 p. : fig. - (Report / Henryk Niewodniszański inst. of nuclear physics ; no. 1690/AP). - Бібліогр.: с. 26-28Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Географічні рубрики:
Дод. точки доступу:
Lekki, J.; Voß, U.; Sowa, M.; Cleff, B.; Stachura, Z.
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 7. |
В277162/2
Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 .
Vol. 2 : Futher applications and related scanning techniques / with contrib. by W. Baumeister [etc.]. - 2nd ed. - 1995. - XIV, 349 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 28). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-58589-3Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\; Baumeister, W. (with contrib. by.); Grütter, P. (with contrib. by.); Guckenberger, R. (with contrib. by.)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 8. |
Р80385
Новиков, Ю. А..
Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов [Текст] / Ю. А. Новиков [и др]. - М. : [б.в.], 1995. - 23 с. - (Препр. / РАН, Институт общей физики. Физика твердого тела. Отдел колебаний ; n19)Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Раков, А. В.; Стеколин, И. Ю.; РАН; Институт общей физики. Физика твердого тела. Отдел колебаний
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 9. |
РА293081
 Мельник, Володимир Миколайович.
Теорія і практика фотограмметричних методів в електронно- мікроскопічних дослідженнях [Текст] : автореф. дис... д-ра техн. наук: 05.24.02 / Мельник Володимир Миколайович ; Державний ун-т "Львівська політехніка". - Львів, 1995. - 51 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Державний університет "Львівська політехніка"
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 10. |
ДС51489
Мельник, Владимир Николаевич.
Теория и практика фотограмметрических методов в электронно- миктроскопических исследованиях [Текст] : дис... д-ра техн. наук: 05.24.02 / Мельник Владимир Николаевич ; Волынский гос. ун-т им. Леси Украинки. - Луцк, 1995. - 404 л.Рубрикатор НБУВ:
Дод. точки доступу:
Волынский государственный университет имени Леси Украинки
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 11. |
В277162/3
Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 .
Vol. 3 : Theory of STM and related scanning probe methods. - 2nd ed. - 1996. - XV, 402 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 29). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-60824-9Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 12. |
РА295156
Грушко, Володимир Ігорович.
Закономірності зміни тунельного струму в системі голка- зразок скануючого тунельного мікроскопа [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Грушко Володимир Ігорович ; НАН України, Ін-т фізики. - К., 1996. - 19 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут фізики (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 13. |
ДС53357
Грушко, Владимир Игоревич.
Закономерности изменения туннельного тока в системе острие- образец сканирующего туннельного микроскопа [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Грушко Владимир Игоревич ; НАН Украины, Ин-т физики. - К., 1996. - 112 л.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Национальная академия наук Украины (Киев); Институт физики (Киев)
Видання зберігається у :
|
| 14. |
РА296504
Мордик, Сергій Миколайович.
Оптимізаційні дослідження іонного джерела та скануючої системи ядерного мікрозонду [Текст] : автореф. дис. канд. фіз.-мат. наук: 01.04.04 ; 01.04.01 / Мордик Сергій Миколайович ; Сумський держ. ун-т. - Суми, 1997. - 22 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Сумський державний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 15. |
ДС54158
Мордик, Сергей Николаевич.
Оптимизационные исследования источника ионов и сканирующей системы ядерного микрозонда [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.04 ; 01.04.01 / Мордик Сергей Николаевич ; Нац. акад. наук Украины, Ин-т приклад. физики. - Сумы, 1997. - 147 с. : рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Национальная академия наук Украины; Институт прикладной физики (Сумы)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 16. |
ВА588482
Куницький, Юрій Анатолійович.
Електронна мікроскопія [Текст] : навч. посібник для студ. інж.-фіз. і фіз. спец. вузів / Ю. А. Куницький, Я. І. Купина. - К. : Либідь, 1998. - 389 с. - ISBN 966-06-0102-6Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Купина, Ярослав Іванович
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 17. |
РА299815
Ушаков, Андрій Вікторович.
Динаміка та кінетика електронів в іонно- пучкових системах холлівського типу [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.20 / Ушаков Андрій Вікторович ; НАН України, Наук. фіз.-технол. центр. - Х., 1998. - 15 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Науковий фізико-технологічний центр (Харків)
Видання зберігається у :
|
| 18. |
ДС57483
Ушаков, Андрей Викторович.
Динамика и кинетика электронов в ионно- пучковых системах холловского типа [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.20 / Ушаков Андрей Викторович ; НАН Украины, Науч. физ.-технол. центр. - Х., 1998. - 142 л. - Бібліогр.: л. 131-140.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Национальная академия наук Украины; Научный физико-технологический центр (Харьков)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| 19. |
MFI3992/1-2
Baumann, Daniel Guy.
Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop [Text] : Diss. / D. G. Baumann ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1999. - 127 S.: Abb. - (Diss.ETH ; 13267)
2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Видання зберігається у :
|
| 20. |
MFI4282/1-2
Lange, Dirk.
Cantilever-based microsystems for gas sensing and atomic force microscopy [Text] : diss. / D. Lange ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 183 p.: fig. - (ETH-DISS ; 13984)
2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
| | |
Простий
Розширений
Книжкові видання та компакт-диски
Пам`ятка користувача