 Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>U=В338.28$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 54
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
1.  |
ІВ218140
Baumann, Danny.
Aufbau eines ultrahochauflösenden Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskops [Text] / Danny Baumann ; Fak. Mathematik und Naturwissenschaften der Techn. Univ. Dresden. - Berlin : mbv, 2011. - V, 220 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 207-218. - ISBN 978-3-86387-137-6Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Die Technische Universität Dresden. Die Fakultät Mathematik und Naturwissenschaften
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 2. |
MFI4189/1-2
Klemenc, Michaela.
Ballistic electron emission microscopy on low dimensional structures [Text] : diss. / M. Klemenc ; Swiss Federal Institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 101 p.: fig. - (ETH-DISS ; 13894)
2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Swiss Federal Institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
| | 3. |
MFI3273/1-2
Sirringhaus, Henning.
Ballistic-electron-emission microscopy on epitaxial CoSi2/Si interfaces [Text] : diss. / H. Sirringhaus ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1995. - 124 p.: fig. - (Diss.ETH ; 11173)
2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Видання зберігається у :
| | 4. |
MFI4282/1-2
Lange, Dirk.
Cantilever-based microsystems for gas sensing and atomic force microscopy [Text] : diss. / D. Lange ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 183 p.: fig. - (ETH-DISS ; 13984)
2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
| | 5. |
ІС15182
Heidorn, Sarah-Charlotta.
Charakterisierung der Grenzflächen von Wasser, Salz und Silber(111) [Text] : Diss. / Sarah-Charlotta Heidorn ; Fak. für Mathematik und Physik der der Gottfried Wilhelm Leibniz Univ. Hannover. - Hannover, 2015. - IV, 155 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 145-155Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität (Hannover). Fakultät für Mathematik und Physik
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 6. |
ІР8312
Construction and first experiments using Scanning Force Microscope [Text] / J. Lekki [et al.]. - Cracow : [s. n.], 1995. - 42 p. : fig. - (Report / Henryk Niewodniszański inst. of nuclear physics ; no. 1690/AP). - Бібліогр.: с. 26-28Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Географічні рубрики:
Дод. точки доступу:
Lekki, J.; Voß, U.; Sowa, M.; Cleff, B.; Stachura, Z.
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 7. |
MFI3992/1-2
Baumann, Daniel Guy.
Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop [Text] : Diss. / D. G. Baumann ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1999. - 127 S.: Abb. - (Diss.ETH ; 13267)
2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Видання зберігається у :
| | 8. |
ІР7373
Geometric characteristics of the SEM electron probe [Text] / E. S. Gornev [a.o.]. - Moscow : [б.в.], 2002. - 56 p.: fig. - (Prepr. / Russian Academy of Sciences. General Physics Institute ; 5). - Бібліогр.: p.51-56Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Gornev, E. S.; Novikov, Yu. A.; Rakov, A. V.; Volk, Ch. P.; Russian Academy of Sciences. General Physics Institute
Видання зберігається у :
| | 9. |
ІВ219071
Preisner, Thomas.
Hybride magneto-mechanisch gekoppelte Berechnung eines magnetischen Rasterkraftmikroskops [Text] : Diss. / Thomass Preisner ; Die Fak. für Elektrotechnik und Informatik der Gottfried Wilhelm Leibniz Univ. Hannover. - Hannover : [s. n.], 2013. - VIII, 186 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 171-185Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität (Hannover). Fakultät für Elektrotechnik und Informatik
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 10. |
ІВ224640
Drost, Martin Georg.
Investigating focused electron beam induced processing on organic and metal-organic substrates [Text] : diss. / Martin Georg Drost ; Naturwissenschaftlichen Fak. der Friedrich-Alexander-Univ. Erlangen-Nürnberg. - Erlangen ; Nürnberg, 2017. - 124 p. : fig. - Бібліогр.: с. 117-123Рубрикатор НБУВ: УДК: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Friedrich-Alexander-Universität (Erlangen-Nürnberg). Naturwissenschaftlichen Fakultät
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 11. |
ІВ211080
Aigouy, Lionel.
Les nouvelles microscopies: á la découverte du nanomonde [Text] / L. Aigouy [та ін.]. - Paris : Belin, 2006. - 304 p.: fig., tab. - (Collection "Échelles", ISSN 1635-8414). - Бібліогр.: v kinci st. - ISBN 2-7011-3648-2Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
De Wilde, Yannick; Frétigny, Christian
Видання зберігається у :
| | 12. |
ІВ211085
Micro et nanothermique [Text] / coord. S. Volz. - Paris : CNRS, 2007. - 387 p.: fig., tab. - (Collection "Sciences et techniques de l'ingénieur"). - Бібліогр.: v kinci st. - ISBN 978-2-271-06462-2Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Volz, Sebastian (coord.)
Видання зберігається у :
| | 13. |
ІС15153
Sickmann, Jan.
Ortsaufgelöste Messung der Gitterverspannungen in Halbleitern mittels Dunkelfeld off-axis Elektronenholographie [Text] : Diss. / Jan Sickmann ; Fak. Mathematik und Naturwissenschaften der Techn. Univ. Dresden. - Dresden, 2014. - 170 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 161-167Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Technischen Universität (Dresden ). Fakultät Mathematik und Naturwissenschaften
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 14. |
В277162/2
Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 .
Vol. 2 : Futher applications and related scanning techniques / with contrib. by W. Baumeister [etc.]. - 2nd ed. - 1995. - XIV, 349 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 28). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-58589-3Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\; Baumeister, W. (with contrib. by.); Grütter, P. (with contrib. by.); Guckenberger, R. (with contrib. by.)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 15. |
В277162/1
Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 .
Vol. 1 : General principles and applications to clean and absorbate-covered surfaces / with contrib. by D. Anselmetti [et al.]. - 2nd ed. - 1994. - XII. 280 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 20). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-58415-3. - ISBN 0-387-58415-3Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\; Anselmetti, D. (with contrib. by.); Behm, R. J. (with contrib. by.); van Bentum , P. J. M. (with contrib. by.)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 16. |
В277162/3
Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 .
Vol. 3 : Theory of STM and related scanning probe methods. - 2nd ed. - 1996. - XV, 402 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 29). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-60824-9Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 17. |
ІВ216756
Stocker, Michael.
Topographische und spektroskopische Untersuchungen magnetischer Moleküle mit dem Rastertunnelmikroskop [Text] : Diss. / Michael Stocker ; Naturwissenschaftlichen Fak. der Friedrich-Alexander-Univ. Erlangen-Nürnberg. - Erlangen-Nürnberg : [s. n.], 2011. - 93 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 85-89Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Friedrich-Alexander-Universität (Erlangen-Nürnberg). Naturwissenschaftlichen Fakultät
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 18. |
ВА689002
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванов. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. - (Мир материалов и технологий ; 6-08). - Библиогр.: в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 (англ.)Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Оикава, Тецуо; Иванов, С. А. (пер. с англ.)
Видання зберігається у :
Універсальний підсобний фонд
| | 19. |
РА399919
Сінькевич, Олег Володимирович.
Ближньопольова мікрохвильова інтроскопія діелектриків з урахуванням просторового розподілу поля зонда [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.03 / Сінькевич Олег Володимирович ; Київ. нац. ун-т ім. Тараса Шевченка. - К., 2013. - 19 с. : рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Київський національний університет імені Тараса Шевченка
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 20. |
РА384787
Матієшин, Юрій Миколайович.
Вдосконалення методів та засобів телевізійної сканувальної оптичної мікроскопії динамічних мікрооб'єктів [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.17 / Матієшин Юрій Миколайович ; Нац. ун-т "Львів. політехніка". - Л., 2011. - 22 с. : рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
"Львівська політехніка", національний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| | |
|
|
Простий
Розширений
Пам`ятка користувача