![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
![Mozilla Firefox](../../ico/mf.png) |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>A=Sickmann J$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
1. ![](/irbis_nbuv/images/printer.jpg) | ІС15153 Sickmann, Jan. Ortsaufgelöste Messung der Gitterverspannungen in Halbleitern mittels Dunkelfeld off-axis Elektronenholographie [Text] : Diss. / Jan Sickmann ; Fak. Mathematik und Naturwissenschaften der Techn. Univ. Dresden. - Dresden, 2014. - 170 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 161-167Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Technischen Universität (Dresden ). Fakultät Mathematik und Naturwissenschaften
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|
|