![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
![Mozilla Firefox](../../ico/mf.png) |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>I=Ж42214/2011/9<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
1. ![](/irbis_nbuv/images/printer.jpg) |
Ж42214/2011/9 | Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf . Wissenschaftlich-Technische Berichte [HZDR] [Text] / Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf . - Dresden : HZDR. - ISSN 2191-8708. № 9 : Scanning near-field infrared microspectroscopy on semiconductor structures / Rainer Jacob. - Dresden : HZDR, 2011. - 121 p. : il., tab. - Бібліогр.: с.107-118 Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf
| 2011 | | № 9
|
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|
|