РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
у знайденому
 Знайдено в інших БД:Журнали та продовжувані видання (1)Наукова періодика України (1)
(M, N)-exponential model in the theory of excitons
Пошуковий запит: (<.>I=Ж16425<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1826
Представлено документи з 1 до 20
...

Piskovoi, V. N.

(M, N)-exponential model in the theory of excitons. 1: 1 = (M, N)-експоненціальна модель в теорії екситонів / V. N. Piskovoi, Ya. M. Strelniker, 1998


Побудовано узагальнену експоненціальну модель, що враховує можливість одночасного існування декількох паралельних каналів розповсюдження світлової енергії екситонами. Детальне фізичне обгрунтування моделі здійснено на базі екситонів Френкеля. Нова модель зберігає всі переваги широко вживаної одно-експоненціальної моделі екситону, як однієї з небагатьох задач в теорії розповсюдження електро-магнітніх хвиль в обмежених просторово-диспергуючих середовищах, що мають точний розв'язок. В той же час вона суттєво розширює можливості досліджень нелокальних оптичних явищ в кристалах. В роботі запропонована модель використовується, зокрема, для одержання додаткових краєвих умов та рівняння балансу для потоку та густоти поляритонної енергії, а також для вирішення ряду інших проблем кристалооптики з просторовою дисперсією в спектральній області екситонних резонансів.



НАДХОДЖЕННЯ:
A biosensor approach to probe the structure and function of the adsorbed proteins: fibrinogen at the gold surface

Snopok, B. A.

A biosensor approach to probe the structure and function of the adsorbed proteins: fibrinogen at the gold surface. 1: 1 = Біосенсорний підхід до вивчення структури та функціонування адсорбованих білків: фібриноген на золотій поверхні / B. A. Snopok, K. V. Kostyukevych [et al.], 1998


Просторовий розподіл та переважна орієнтація молекул білків у моношарі досліджена з застосуванням кінетики поверхневого плазмонного резонансу (ППР) та мікроскопії атомних сил (МАС) підчас адсорбції фібриногену людини на поверхню золота. У роботі проведена серія специфічних імунних реакцій щоб проаналізувати адсорбційно-конформаційний стан плівок фібриногену. Отримані результати демонструють прямий зв'язок кінетичних параметрів реакції антиген-антитіло з конформацією фібриногену на межі розподілу. Застосування МАС і ППР аналізів дало можливість визначити одно-, двох- та трьох молекулярні структурні сполуки фібриногену на межі розподілу. Адсорбція фібриногену на поверхню полікристалічного золота - це складний процес, що містить: розгортання, стимульоване поверхнею, само-збирання та адсорбцію, які відбуваються конкурентно у часі. Цей результат підтверджує перспективу запропонованого підходу у біосенсорній техніці для визначення просторового розподілу та біофункціональних властивостей специфічних білків, які адсорбуються з біологічних рідин.



НАДХОДЖЕННЯ:
Amplification of localized acoustic waves by the electron drift in a quantum well

Demidenko, A. A.

Amplification of localized acoustic waves by the electron drift in a quantum well. 2: 1 = Підсилення конфайних акустичних хвиль електронами, що дрейфують в квантовій ямі, 1999


Одержано рішення рівняння теорії пружності у вигляді локалізованих хвиль поблизу шару, в якому є електрони, а пружні властивості відрізняються від пружних властивостей оточуючого середовища. Для товщин шару, малих порівняно з довжиною хвилі звуку, одержано аналітичне рішення рівняння дисперсії. Для електронів в середині шару побудовано електронні стани для випадку, коли поздовжній рух квазікласичний, а поперечний квантується (квантова яма). Одержано рішення кінетичного рівняння Больцмана для двовимірних електронів при наявності поздовжнього електричного поля. Розв'язано одержану замкнену систему рівнянь при електрон-фононній взаємодії через деформаційний потенціал, одержано дисперсійне рівняння для змішаних локалізованих акусто-зарядних хвиль. Проаналізовано умови підсилення акустичної хвилі дрейфом електронів для квантової та класичної ями. В останньому випадку поперечний рух електронів розглядається як квазікласичний. Проведено порівняння з підсиленням об'ємних хвиль.



НАДХОДЖЕННЯ:
Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots

Martin, P. M.

Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots. 1: 1 = Ємнісна спектроскопія InAs самоорганізованих квантових точок / P. M. Martin, A. E. Belyaev [et al.], 1998


Ємнісна спектроскопія використується для дослідження електронних властивостей само-організованих InAs квантових точок. Вимірювання вольт-фарадних характеристик, C(V), одночасно з даними по магнето-емності, C(B), дозволяють досліджувати електростатичний профіль однобар'єрних p-i-n GaAs/AlAs/GaAs гетероструктур, які містять в AlAs бар'єрі шар само-організованих InAs квантових точок. Ми визначили, що негативний заряд, пов'язаний з заповненням квантових точок електронами, майже повністю компенсується позитивним зарядом в AlAs бар'єрі, що, на нашу думку, пов'язано з іонізованими дефектами чи домішками, які обумовлені квантовими точками. Показано, що міра компенсації суттєво залежить від ростових умов.



НАДХОДЖЕННЯ:
Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices

Daweritz, L.

Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices. 1: 1 = Характеристики коругованості інтерфейсу в короткоперіодних надгратках GaAs/AlAs / L. Daweritz, H. Grahn [et al.], 1998


Методом поляризованої фотолюмінесценції досліджені надгратки GaAs/AlAs з коругованими гетеромережами. Співставляючи експериментальні результати з теоретичними розрахунками на основі моделі, яка пов'язує ступінь лінійної поляризації екситонної фотолюмінесценції з параметрами коругованостей, визначені висота та латеральна протяжність коругованостей.



НАДХОДЖЕННЯ:
Characteristics of thermal lens induced in active rod of cw Nd:YAG laser

Khizhnyak, A.

Characteristics of thermal lens induced in active rod of cw Nd:YAG laser. 2: 1 = Характеристики теплової лінзи, що наводиться в активному елементі Nd:AIГ лазера при неперервній накачці, 1999


Для дослідження структури теплової лінзи, що наводиться в активному стержні Nd:АIГ-лазера при неперервній накачці, було використано інтерферометр Маха-Цендера і електронну спекл інтерферометричну систему. Показано, що аберації теплової лінзи малі, відіграють роль збурень і призводять до виходу в генерацію всіх тих поперечних мод, підсилення яких в резонаторі переважає втрати. Показано, що при зміні рівня накачки відбувається зміщення оптичної осі лінзи та поворот її головних площин.



НАДХОДЖЕННЯ:
Effect of the desorption process on photoluminescence excitation spectra of porous silicon

Torchinskaya, T. V.

Effect of the desorption process on photoluminescence excitation spectra of porous silicon. 1: 1 = Вплив процесу десорбції на спектри збудження фотолюмінесценції пористого кремнію / T. V. Torchinskaya, N. E. Korsunskaya [et al.], 1998


Досліджено механізм збудження фотолюмінесценції пористого кремнію методами фотолюмінесценції та інфрачервоного поглинання. Показано, що існує два типи спектрів збудження, які містять або дві смуги (видиму та ультрафіолетову), або тільки одну (ультрафіолетову) смугу. Вивчено залежності інтенсивностей кожної смуги від режимів електрохімічного травлення, а також їх поведінка у процесі старіння та термічного оброблення пористих шарів. Показано, що існують два канали збудження фотолюмінесценції. Видима смуга у спектрі збудження при 300 К пов'язується з поглинанням світла у речовинах, які адсорбовані на поверхні кремнієвих ниток.



НАДХОДЖЕННЯ:
Evidence for photochemical transformations in porous silicon

Shevchenko, V. B.

Evidence for photochemical transformations in porous silicon. 2: 2 = Свідчення про фотохімічні перетворення в поруватому кремнії, 1999


В роботі досліджувалася динаміка зміни інтенсивності фотолюмінесценції (ІФЛ) зразків поруватого кремнію (ПК), які під час їх старіння на повітрі зазнають дії лазерного опромінення (337 нм, 3.7 мВт). З'ясувалося, що під впливом УФ-опромінення ІФЛ швидко зростає і через кілька годин досягає "плато". Подальше опромінення призводить до спадання інтенсивності, що пояснюється ефектом втоми люмінесценції. В той же час для зразка, що не опромінювався, ІФЛ майже не змінюється за час експерименту. Виявилося, що на етапі початкового монотонного наростання ІФЛ після короткочасного (1-2 хвилини) припинення освітлення зразка лазером на кривій еволюції ІФЛ спостерігається аномалія у вигляді невеликого сплеску вниз, тоді як на ділянках монотонного спадання кривої ІФЛ ця аномалія являє собою сплеск угору. У випадку довготривалого (десятки годин) припинення освітлення аномалія була однотипною для всіх ділянок кривої ІФЛ. Описані результати пояснюються впливом двох конкурентних факторів: втоми люмінесценції та формування під дією світла нестабільних (молекулярних) хімічних зв'язків, які можуть перетворюватися на стабільні атомні.



НАДХОДЖЕННЯ:
Influence of absorption level on mechanisms of Bragg-diffracted x-ray beam formation in real silicon crystals

Klad'ko, V. P.

Influence of absorption level on mechanisms of Bragg-diffracted x-ray beam formation in real silicon crystals. 2: 1 = Вплив рівня поглинання на механізми формування брег-дифрагованого пучка рентгенівських променів в реальних кристалах кремнію, 1999


Методом чисельного моделювання за формулами динамічної теорії розсіювання випромінювань реальними кристалами та за допомогою розв'язку рівнянь Такагі- Топена вивчені основні закономірності брег-дифракції рентгенівських променів в умовах сильного та слабкого поглинання. Встановлені механізми формування профілів просторового розподілу інтенсивності дифрагованих пучків в залежності від енергії випромінювання та структурної досконалості кристалів. Запропоновані формули для аналітичного опису профілів розподілу інтенсивностей, які враховують динамічні поправки (коефіцієнти екстинкції) для когерентної і некогерентної складових дифрагованої інтенсивності.



НАДХОДЖЕННЯ:
Influence of temporal parameters of laser irradiation on emission spectra of the evaporated material

Zabello, E.

Influence of temporal parameters of laser irradiation on emission spectra of the evaporated material. 2: 1 = Вплив часових характеристик лазерного випромінювання на емісійні спектри випарованого матеріалу, 1999


Наведено результати дослідження емісійних спектрів металів, випаровуваних цугом гігантських лазерних імпульсів в повітрі при атмосферному тиску. Показано, що при дії послідовності імпульсів, які слідують з інтервалом близько 10 мкс, область ерозійного факелу, що відповідає випромінюванню атомів випаровуваної речовини, істотно віддаляється від області випромінювання суцільного спектру. В результаті різко зростає чутливість якісного аналізу складу матеріалу. Для кількісного аналізу складу необхідно здійснювати вибір пар спектральних ліній, відмінний від такого для методів дугового чи іскрового емісійного аналізів.



НАДХОДЖЕННЯ:
Interface electronic properties of heterojunctions based on nanocrystalline silicon

Kaganovich, E. B.

Interface electronic properties of heterojunctions based on nanocrystalline silicon. 2: 2 = Граничні електронні властивості гетеропереходів на основі нанокристалічного кремнію, 1999


Для вивчення електронних властивостей гетеропереходів Si нанокристалічна (nc-Si) плівка / Si монокристал (c-Si) використано метод температурних залежностей поверхневої фото-ерс. Досліджено два типи зразків, одержаних лазерною абляцією c-Si мішені з осадженням nc-Si плівок на підкладки, віддалені від мішені, та на площину мішені. Розраховано температурні залежності концентрації носіїв заряду, захоплених на пастки межі поділу гетеропереходу, розподіл густини граничних електронних станів за енергією. З'ясовуються зв'язки між умовами одержання гетеропереходів та їх граничними електронними властивостями.



НАДХОДЖЕННЯ:
Investigation of growth conditions, crystal structure and surface morphology of SmS films fabricated by MOCVD technique

Volodin, N. M.

Investigation of growth conditions, crystal structure and surface morphology of SmS films fabricated by MOCVD technique. 2: 2 = Дослідження умов росту, кристалічної структури та морфології поверхні плівок SmS, виготовлених методом МОГФЕ, 1999


Отримано полікристалічні плівки SmS MOCVD-методом із застосуванням ряду дітіокарбаматів, які синтезовані різноманітними способами. Досліджено кінетику росту і температурні залежності швидкості росту плівок, які дозволили визначити енергії активації, тип реакції; проведено дослідження структури і морфології поверхні плівок. Визначено технологічні умови, які забезпечують виготовлення однофазних плівок SmS кубічної модифікації з найбільш впорядкованою кристалічною структурою.



НАДХОДЖЕННЯ:
Investigation of the photoelastic effect in Si at high values of the absorptivity

Boiko, I. I.

Investigation of the photoelastic effect in Si at high values of the absorptivity. 2: 2 = Дослідження ефекту фотопружності в Sі в умовах великих значень показника поглинання, 1999


У монокристалах Si теоретично та експериментально досліджено ефект подвійного променезаломлення, зумовлений дією одновісної пружної деформації. Для підвищення чутливості вимірювальної системи в межах фундаментального поглинання використано поляризаційну модуляцію віддзеркаленого випромінювання. Виміряно деформаційні характеристики ефекту. Результати, отримані на довжинах хвиль зондуючого випромінювання в діапазоні прозорості, добре узгоджуються із висновками попередніх досліджень. У діапазоні сильного поглинання виявлено кардинальну зміну вигляду характеристик ефекту та встановлено їх задовільне узгодження із результатами теоретичного розрахунку.



НАДХОДЖЕННЯ:
Light absorption by d-dimensional organic semiconductors under exciton transitions between broad bands

Grigorchuk, N. I.

Light absorption by d-dimensional organic semiconductors under exciton transitions between broad bands. 2: 1 = Поглинання світла D-мірними органічними напівпровідниками за наявністю екситонних переходів між широкими смугами, 1999


В рамках дипольного наближення розраховується форма лінії вбирання світла при екситонних переходах між широкими зонами в одно-, дво- і тривимірних органічних напівпровідникових структурах. Враховується загасання екситона на неоднорідностях гратки як параметр, не залежний від частоти. Отримані аналітичні вирази дозволяють аналізувати форму лінії для структур різної просторової розмірності в залежності від різниці ширини зон, параметра загасання і температури.



НАДХОДЖЕННЯ:
Optical vortices and the flow of their angular momentum in a multimode fiber

Alexeyev, A. N.

Optical vortices and the flow of their angular momentum in a multimode fiber. 1: 1 = Оптичні вихорі та потік їхнього кутового момента в багатомодових волокнах / A. N. Alexeyev, T. A. Fadeyeva, A. V. Volyar, M. S. Soskin, 1998


Розглядається проблема розповсюдження оптичних вихорів в багатомодових волокнах. Показано яких структурних змін дізнають хвильова і променева поверхні при переході із вільного простору в середовище волокна. Записане рівняння неперервності для потоку кутового момента вихора в неоднорідному середовищі.



НАДХОДЖЕННЯ:
Photosensitive porous silicon based structures

Svechnikov, S. V.

Photosensitive porous silicon based structures. 1: 1 = Фоточутливі структури на базі пористого кремнію / S. V. Svechnikov, E. B. Kaganovich, E. G. Manoilov, 1998


Представлені результати електричних та фотоелектричних вимірювань двох типів Al/пористий кремній (ПК)/монокристалічний кремній (c-Si)/Al сендвич структур с тонкими та товстими шарами ПК, що одержані хімічним забарвлюючим травленням. Вольт-амперні характеристики та спектри фотовідгуків свідчать про те, що фоточутливість структур з тонкими шарами ПК переважно визначається гетеропереходом (ГП) ПК/c-Si, а з товстими - ПК шарами. Властивості ГП з'ясовані в рамках зонної діаграми ізотипного ГП з протилежними напрямками вигину зон по обидва боки переходу завдяки високій концентрації дефектів на межі розподілу. ПК шари - фоточутливі, з максимумом чутливості біля 400-500 нм. Результати порівнюються з такими для структур на основі шарів ПК, що одержані eлектрохімічним травленням.



НАДХОДЖЕННЯ:
Saturation of optical absorption in CdS single crystals

Malysh, N. I.

Saturation of optical absorption in CdS single crystals . 2: 1 = Насичення оптичного поглинання монокристалів сульфіду кадмію, 1999


Досліджено насичення оптичного поглинання сульфіду кадмію в урбаховській ділянці спектра. Показано, що стрибкоподібне зменшення коефіцієнта поглинання пов'язано з перезарядкою мілких акцепторів, а край поглинання при низьких та високих інтенсивностях підкоряється експоненціальній залежності. Запропоновано метод розрахунку нелінійних залежностей пропускання за відомими формулами, який дозволяє мінімізувати величину середньоквадратичного відхилення спостережуваних значень від теоретичних у всьому інтервалі інтенсивностей.



НАДХОДЖЕННЯ:
Silicon-on-insulator technology for microelectromechanical applications

Usenko, A. Y.

Silicon-on-insulator technology for microelectromechanical applications . 2: 1 = Застосування технології "кремній на ізоляторі" при виготовленні мікроелектромеханічних систем / A. Y. Usenko, W. N. Carr, 1999


Розглянуто різні типи мікроелектромеханічних (МЕМ) приладів, що можуть бути створені на основі структур "кремній на ізоляторі" (КНI). Підсумовано переваги використання технології КНI. Проаналізовано проблеми інтеграції структур, побудованих за технологіями кремній-метал-оксид-напівпровідник та КНI з метою створення сенсорів з логічними пристроями. Наведено приклади успішного використання структур КНI для виготовлення сучасних МЕМ приладів, а також дано оцінку майбутніх перспектив їх застосування.



НАДХОДЖЕННЯ:
Theoretical approach to electrodiffusion of shallow donors in semiconductors: I. Stationary limit

Kashirina, N. I.

Theoretical approach to electrodiffusion of shallow donors in semiconductors: I. Stationary limit. 1: 1 = Теоретичний підхід до електродифузії мілких донорів в напівпровідниках: I. Стаціонарний випадок / N. I. Kashirina, V. V. Kislyuk, M. K. Sheinkman, 1998


Дається аналіз можливості розподілу рухомих точкових дефектів в напівпровіднику після дії на нього електричного поля до встановлення стаціонарних умов. Розглядаються два способи прикладання напруги: а) безпосередньо до зразка, б) до обкладинок конденсатора, між якими поміщається зразок. Модель також можна застосовувати для електричних полів будь-якої природи - як зовнішніх так і внутрішніх, що виникають, наприклад, на контакті метал-напівпровідник.



НАДХОДЖЕННЯ:
Varistor-like current-voltage characteristic of porous silicon

Vakulenko, O. V.

Varistor-like current-voltage characteristic of porous silicon. 2: 2 = Вольт-амперні характеристики варісторного типу в поруватому кремнії, 1999


Досліджено вольт-амперну характеристику (ВАХ) у поруватому кремнії (ПК) при поздовжньому та поперечному напрямку прикладеного електричного поля. Одержана варісторна форма ВАХ. Крім практичного застосування вона цікава і тим, що підтвердила існування в ПК зеренної структури, вплив якої дискутується при аналізі механізму видимої люмінесценції поруватого кремнію.



НАДХОДЖЕННЯ:
...
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського