РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
у знайденому
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (41)Журнали та продовжувані видання (9)
Пошуковий запит: (<.>U=В343.41$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 90
Представлено документи з 1 до 20
...
1.

Svishch V. M. About the informative parameters of Michelson interferometers with the division of amplitude and the wave front // East Europ. J. of Physics. - 2018. - 5, № 3.
2.

Pervak V. Yu. Broadband interference filters with suppression of high reflection bands of 4-, 5- and 6-th orders // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2005. - 8, № 3.
3.

Mikhaylovskaya L. V. Characteristic properties of opto-acoustic interaction in the "thick" acoustic grating. — 2009 // Сенсор. електрон. і мікросистем. технології.
4.

Malenko A. S. Classic Ronchi test and its variants for quality control of various optical surfaces // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2016. - 19, № 3.
5.

Bondarchuk Ya. M. Development and application of resonator mirrors with displaced spectral characteristics for selection of laser transitions. — 2004 // Укр. фіз. журн.
6.

Gorshkov V. N. Diffraction of the singular beam on an opaque screen and regeneration of an optical vortex. — 2006 // Укр. фіз. журн.
7.

Miroshnichenko V. S. Diffraction radiation oscillator with asymmetric open resonant system. P. 2. Hot test results of diffraction radiation oscillator // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2016. - 8, № 2.
8.

Miroshnichenko V. S. Diffraction radiation oscillator with asymmetric open resonant system. Pt. 1. Cold test results of open resonant system // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2016. - 8, № 2.
9.

Molodkin V. B. Dynamical theory of triple-crystal X-ray diffractometry and characterization of microdefects and strains in imperfect single crystals // Металлофизика и новейшие технологии. - 2016. - 38, № 1.
10.

Skalsky V. R. Michelson interferometer stabilized scheme for detecting surface acoustic waves // Відбір і оброб. інформації : міжвід. зб. наук. пр. - 2019. - Вип. 47.
11.

Kopilovich L. E. Multielement linear interferometers with one remote element. — 2005 // Радиофизика и радиоастрономия.
12.

Kopilovich L. E. Nonredundant hexagonal grid interferometer configurations with element-free central domains. — 2004 // Радиофизика и радиоастрономия.
13.

Khramtsova V. I. PbF2 as a material for interference coatings of IR spectral region // Functional Materials. - 2000. - 7, № 1.
14.

Fekeshgazi I. V. Properties and application of the unequal thickness two-component interference systems // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2000. - 3, № 3.
15.

Stadnyk B. State and prospects of computerized systems monitoring the topology of surfaces, based on white light interferometry // Computational Problems of Electrical Eng.. - 2014. - 4, № 1.
16.

Zhukovskiy V. Study of surface microstrains by electron speckle-interferometry methods // Ukr. j. of mech. eng. and materials science. - 2017. - 3, № 1.
17.

Pervak V. Y. The spectral properties of the reflective interference filters // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2001. - 4, № 2.
18.

Bondarenko S. I. Transport and magnetic properties of a superconducting closed loop containing a thin-film quantum interferometer // Фізика низ. температур. - 2020. - 46, N 4 (спец. вип.).
19.

Bondarenko S. I. Transport and magnetic properties of a superconducting closed loop containing a thin-film quantum interferometer // Фізика низ. температур. - 2020. - 46, N 4 (спец. вип.).
20.

Pylypenko O. V. Two-probe implementation of microwave interferometry for motion sensing and complex reflection coefficient measurement // Техн. механика. - 2018. - № 3.
...
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського