Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>AT=Мудрак Електрофізичні та теплофізичні властивості$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
1. |
Мудрак І. М. Електрофізичні та теплофізичні властивості наносистеми із структурою "ядро–оболонка" AgI/SiO2 [Електронний ресурс] / І. М. Мудрак, Л. П. Сторожук, С. М. Махно, П. П. Горбик // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2012. - Т. 10, Вип. 4. - С. 819-827. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2012_10_4_16 Исследованы электро- и теплофизические свойства нанокомпозитов AgI/SiO2 со структурой "ядро - оболочка" (размер ядра AgI <$E symbol @> 40 нм) в диапазоне температур 300 - 450 К в зависимости от толщины оболочки диоксида кремния (5 - 15 нм). Установлена зависимость между температурой фазового <$E beta ~symbol О~alpha>-перехода йодида серебра из диэлектрического в суперионное состояние и толщиной оболочки SiO2. Обнаружено, что электропроводность наносистемы AgI/SiO2 на порядок величины выше, чем йодида серебра в <$E beta>-фазе, и характеризуется обратной зависимостью от толщины оболочки SiO2.
|
|
|