Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Книжкові видання та компакт-диски (2) | Реферативна база даних (1) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>A=Д'ЯЧЕНКО Л. І.<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
| 1. | 
Д'яченко Л. І. Система аналізу дефектів вирощування напівпровідникових кристалів [Електронний ресурс] / Л. І. Д'яченко, Є. В. Мінов, С. Е. Остапов, І. Й. Наконечний, В. І. Буркут, О. В. Копач, П. М. Фочук // Системи обробки інформації. - 2012. - Вип. 4(1). - С. 16-19. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/soi_2012_1_4_7 Розроблено програмне забезпечення для розпізнавання фотографій дефектної підсистеми, які створюються під час сканування реальних напівпровідникових кристалів в ІЧ-променях. Наведено структурну схему та опис установки, яка використовується для одержання знімків, а також описано алгоритм розпізнавання ІЧ фотографій. Наведено способи перевірки правильності розпізнавання та запропоновано новий метод тестування коректності роботи існуючих програмних комплексів для моделювання структури та параметрів підсистеми дефектів вирощування напівпровідникових кристалів. | ||
Попередній перегляд: 
Реферативна БД
 |
| Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів |
 Пам`ятка користувача |