Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Реферативна база даних (2) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>K=X2<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 8 Представлено документи з 1 до 8 |
|||
| 1. | 
Селищев В. С. Особенности процедуры вычисления атомарной радиальной базисной функции Plop(x1, x2) [Електронний ресурс] / В. С. Селищев // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2009. - № 4. - С. 61–67. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2009_4_11 Произведен анализ вычислительных погрешностей при реализации алгоритма построения атомарной радиально базисной функции (АРБФ) Plop(x1, x2), применяемой в численных методах решения краевой задачи по бессеточной схеме на основе использования АРБФ. Описаны этапы построения функции Plop(x1, x2). Произведена оценка диапазона изменения аргумента обратного преобразования Фурье U(z), где, для функции Plop(x1, x2). Предложены два способа вычисления U(z): по степенному разложению данной функции в окрестности нуля и с помощью асимптотического приближения Ханкеля функции J0(z), являющейся слагаемой функции U(z), при больших значениях z. Произведена оценка погрешности вычислений U(z). С помощью U(z) вычисляется Plop(x1, x2) и производится оценка точности вычислений. Приведен алгоритм быстрого вычисления функции Plop(x1, x2) с использованием процедуры интерполяции, производится оценка его точности. | ||
| 2. | 
Bunak S. V. Electrical properties of semiconductor structures with Si nanoclusters in SiO2 grown by high temperature annealing technology of SiOX layer, X<2 [Електронний ресурс] / S. V. Bunak, A. A. Buyanin, V. V. Ilchenko, V. V. Marin, V. P. Melnik, I. M. Khacevich, O. V. Tretyak, A. G. Shkavro // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 1. - С. 12-18. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_1_5 The theoretical and experimental investigations of electrical properties of the SiO | ||
| 3. | 
Роде Г. Г. Перенос похибок та середніх вимірів фізичної величини для елементарних функцій x2 та √(x) [Електронний ресурс] / Г. Г. Роде // Український фізичний журнал. - 2017. - Т. 62, № 2. - С. 184-190. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2017_62_2_15 Одержано нові точні "правила переносу похибки та середнього" однієї вимірюваної фізичної величини на іншу, що пов'язана з нею функційним зв'язком типу cos(x) або arccos(x). Показано, що добуті співвідношення ідеально працюють у процесі обробки набору даних реального фізичного дослідження. Це пов'язано з тим, що за природою в них неявно вже закладена вагова схема Гауса. Аналітична форма, в якій наведені згадані правила ("аналітичні правила переносу"), а також точний характер їх надають можливість спростити та прискорити процедуру обробки й аналізу експериментальних даних.Одержано "правила переносу похибки та середнього" однієї вимірюваної фізичної величини на іншу, пов'язану з нею функційним зв'язком <$E x sup 2> або <$E sqrt x>. В ці правила по природі закладена вагова схема Гауса. Тому вони мають добре працювати в межах реальної вагової схеми Гауса з дискретними даними реального фізичного дослідження (з "вибірками"). Аналітична форма, в якій представлені згадані правила ("аналітичні правила переносу"), а також їх точний характер надає можливість спростити та прискорити процедуру обробки й аналізу експериментальних даних.Одержані "правила переносу похибки та середнього" однієї вимірюваної фізичної величини на іншу, пов'язану з нею зв'язком a<^>x | ||
| 4. | 
Rode G. G. Propagation of the measurement errors and measured means of physical quantities for the elementary functions x2 and √x [Електронний ресурс] / G. G. Rode // Ukrainian journal of physics. - 2017. - Vol. 62, № 2. - С. 184-191. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2017_62_2_15 | ||
| 5. | 
Корбан Ю. В. Использование непараметрического критерия значимости x2 для экспериментальной оценки воздействия цвета на психофизиологическое состояние студентов [Електронний ресурс] / Ю. В. Корбан // Науковий вісник Південноукраїнського національного педагогічного університету ім. К. Д. Ушинського. - 2014. - № 1-2. - С. 124-129. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/punpu_2014_1-2_21 | ||
| 6. | 
Ханін О. Г. Метод x2- кластеризації в задачах маркетингу [Електронний ресурс] / О. Г. Ханін // Економічний аналіз. - 2016. - Т. 26, № 1. - С. 38-42. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/ecan_2016_26(1)__7 | ||
| 7. |
Kosobutskyy P. Statistical analysis of normally distributed data with a limited scattering interval of values converted by direct g(x) = x2; cos x; ax and inverse functions [Електронний ресурс] / P. Kosobutskyy // Ukrainian journal of physics. - 2022. - Vol. 67, № 5. - С. 346-351. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2022_67_5_8 | ||
| 8. |
Кособуцький П. С. Статистичний аналіз нормально розподілених даних із обмеженим інтервалом розсіяння значень, перетворених прямими g(x) = x2; cos x; ax та оберненими до них функціями [Електронний ресурс] / П. С. Кособуцький // Український фізичний журнал. - 2022. - Т. 67, № 5. - С. 346-351. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2022_67_5_8 | ||
Попередній перегляд: 
Реферативна БД
 |
| Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів |
 Пам`ятка користувача |