РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІНАДХОДЖЕННЯ |
ПОШУК
|
РУБРИКАТОР
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000008880<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
Сидоренко С. И. Исследование структурных превращений в тонких пленках системы V-Si методом когерентного оптического фурье-анализа / С. И. Сидоренко, Ю. Н. Макогон, Л. П. Максимович, А. Ю. Васильковский, А. А. Дзярук // Металлофизика и новейшие технологии. - 1998. - 20, № 8. - С. 25-33. - Библиогр.: 6 назв. - рус. Вивчено особливості структурних перетворень тонких плівок системи ванадій-кремній при термічній обробці методом когерентного оптичного фур'є-аналізу. Досліджено закономірності формування силіцидних фаз в тонкоплівковій системі V-Si при відпалах при температурах 720, 860, 950, 1060 та 1200 К. Встановлено, що процеси силіцидоутворення супроводжуються складними морфологічними змінами структури та істотно залежать від температури відпалу. Ключ. слова: фурье-анализ, тонкая пленка, силицид, аморфная фаза, кристаллическое состояние Індекс рубрикатора НБУВ: В372 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" | |||
| Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
 |
| Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів |
 |
| Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського