РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000012738<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Гафнер Ю. Я. 
Моделирование краткой стадии термического отжига при облучении высокоэнергетическими ионами / Ю. Я. Гафнер, С. Л. Гафнер, В. Н. Удодов // Металлофизика и новейшие технологии. - 2000. - 22, № 10. - С. 15-17. - Библиогр.: 10 назв. - рус.

Накопичення дефектів за умови каскаду ушкоджень обговорено в поняттях кінетичних реакцій, що враховують кластероутворення, рекомбінацію, міграцію й анігіляцію дефектів на стоках. Результати розрахунків за методом Монте-Карло узгоджуються з експериментальними результатами.


Ключ. слова: ионное облучение, накапливание дефектов, одномерная миграция, production bias model, метод Монте-Карло
Індекс рубрикатора НБУВ: К209.1

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського