Гафнер Ю. Я. Моделирование краткой стадии термического отжига при облучении высокоэнергетическими ионами / Ю. Я. Гафнер, С. Л. Гафнер, В. Н. Удодов // Металлофизика и новейшие технологии. - 2000. - 22, № 10. - С. 15-17. - Библиогр.: 10 назв. - рус.Накопичення дефектів за умови каскаду ушкоджень обговорено в поняттях кінетичних реакцій, що враховують кластероутворення, рекомбінацію, міграцію й анігіляцію дефектів на стоках. Результати розрахунків за методом Монте-Карло узгоджуються з експериментальними результатами. Ключ. слова: ионное облучение, накапливание дефектов, одномерная миграция, production bias model, метод Монте-Карло Індекс рубрикатора НБУВ: К209.1
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|