Досліджено вплив надтонких діелектричних покриттів на електростатичну активність неселективної поверхні діелектриків. Запропоновано теоретичний метод оцінки електростатичної активності шаруватих діелектричних структур. Запропонований підхід дозволяє розрахувати електростатичну активність діелектричної (напівпровідникової) поверхні з різними товщинами діелектричних покриттів.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"