Досліджено проблему використання модуляційної методики виділення сигналів вимірювальної інформації, яка забезпечує підвищення чутливості та точності вимірювань, а також ослаблення залежності їх результатів від різних заважаючих факторів. Запропоновано принципове рішення, яке дозволяє усунути вплив заважаючих факторів, розглянуто методи дослідження рекомбінаційних процесів у напівпровідниках. Наведено функціональну схему установки для фотомодуляційної діагностики напівпровідників за допомогою техніки НВЧ.

Рассмотрены вопросы применения модуляционной методики выделения сигналов измерительной информации, обеспечивающей повышение чувствительности и точности измерений, а также ослабляющей зависимость их результатов от всевозможных мешающих факторов. Предложено принципиальное решение, позволяющее устранить влияние мешающих факторов, рассмотрены методы исследования рекомбинационных процессов в полупроводниках. Приведена функциональная схема установки для фотомодуляционной диагностики полупроводников при помощи техники СВЧ.

The problems of application of the modulation technique for discriminating the measuring information signals ensuring on increase in sensitivity and measurement precision combined with weakening the dependence of their results on various interfering factors are considered. The basic solution allowing to eliminate the interfering factors influence is offered, methods for investigating the recombination processes in semiconductors are considered, the functional installation diagram for semiconductors photomodulation diagnostics with microwave technique is given.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"