Запропоновано безеталонний метод вимірювання інтегральної відбивної здатності (ІВЗ) реальних (які містять дефекти структури) монокристалів, а також інтегрального параметра структурної досконалості - статичного фактора Дебая-Валлера, що може бути застосований до широкого діапазону довжин хвиль рентгенівського випромінювання (РВ). Досліджено бездислокаційні монокристали кремнію, вирощені за методом Чохральського, що характеризувались різним рівнем структурної недосконалості. Метод виявився особливо чутливим до дефектів кристалічної гратки в разі використання жорсткого рентгенівського випромінювання з довжиною хвилі меншою за 0,3 ангстрем. Застосування запропонованого методу на довжинах хвиль РВ 0,2 ангстрем дозволило більш як на порядок підвищити чутливість ІВЗ до структурних недосконалостей. Одержані експериментальні значення ІВЗ добре узгоджуються з передбаченнями динамічної теорії розсіяння рентгенівських променів на кристалах з однорідно розподіленими дефектами. Переваги запропонованого методу стають найбільш виразними в разі застосування синхротронних джерел рентгенівського випромінювання.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"