Оліховський С. Й. Диференціальна рентгенівська дифракційна діагностика складної дефектної структури в монокристалах кремнію / С. Й. Оліховський, Є. М. Кисловський, В. Б. Молодкін, Є. Г. Лень, Т. П. Владімірова, О. В. Решетник // Металлофизика и новейшие технологии. - 2000. - 22, № 6. - С. 3-19. - Бібліогр.: 57 назв. - укp.Запропоновано теоретичну модель для кількісного опису кривих дифракційного відбиття (КВД) за Бреггом від монокристалів, що містять однорідно розподілені дефекти декількох типів і довільних розмірів. Цю модель застосовано для встановлення характеристик преципітатів кисню та дислокаційних петель у зразку кремнію, відпаленому за 750 °C протягом 50 год за його КДВ, виміряними на високороздільному двокристальному рентгенівському дифрактометрі для відбиттів (111) і (333) випромінювань CuKalpha 1 та MoKalpha 1. Ключ. слова: дифракція рентгенівських променів, динамічна теорія, кремній, мікродефекти, дифузне розсіяння, високороздільний двокристальний дифрактометр Індекс рубрикатора НБУВ: В379.347
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|