Проведено багатокутові еліпсометричні вимірювання у видимій області спектра на діелектричних плівках, одержаних на кварцовому склі розпиленням матеріалу електронним пучком. Показано, що виміряна еліпсометрична функція описується двошаровою системою, яка містить покриття і прошарок між покриттям і підкладкою. Знайдено показники заломлення та товщини шарів. Визначено параметри полірованого шару, який завжди утворюється внаслідок механічної обробки оптичного скла. Висловлено припущення, що прошарок утворюється під час нанесення покриття внаслідок проникнення матеріалу покриття у полірований шар.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"