С использованием энергодисперсионного спектрометра на электронном микроскопе - микроанализаторе РЭММА 101 А впервые исследованы микроструктура и химсоставы основных структурных составляющих и избыточных фаз выделения в микроструктуре промышленного слитка 45 %-ного ферросилиция. Установлено, что по своему химсоставу основные структурные фазы соответствуют двухфазной температурно-концентрационной области частной системы FeSi - Fe_xSi₂, а избыточные фазы выделения содержат наряду с Si и Fe примесные элементы, в том числе, и не регламентированные стандартом ГОСТ 1415-78, что обуславливает снижение механических свойств слитков и устойчивости против самопроизвольного их рассыпания.

• Зубов Вячеслав Леонідович (технічні науки)
• Гасик Михайло Іванович (1929–2021) (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"