РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000034805<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Венгер Е. Ф. 
Численное моделирование влияния толщины покровного слоя и адсорбции молекул на угол распространения в планарном поляризационном интерферометре / Е. Ф. Венгер, А. В. Гончаренко, С. Н. Завадский, Б. А. Снопок, Ю. В. Ушенин, Ю. М. Ширшов // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 1999. - Вып. 34. - С. 142-148. - Библиогр.: 9 назв. - рус.

С использованием формализма матрицы рассеяния и условия поперечного синхронизма рассчитаны углы распространения волноводных мод в многослойной структуре кремний - оксид кремния - нитрид кремния - фосфоросиликатное стекло (ФСС) - адсорбированный слой молекул. Рассчитаны области существования волноводных мод и отклик разности фаз s- и p-поляризации на адсорбцию тонкого молекулярного слоя для разной толщины покровного слоя ФСС. Показано, что при возрастании толщины слоя ФСС от 0 до 200 нм адсорбционный отклик монотонно уменьшается, асимптотически приближаясь к нулю. Полученные результаты дают возможность оптимального выбора толщины защитного слоя.


Індекс рубрикатора НБУВ: В343.41

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського