![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000034805<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Венгер Е. Ф. Численное моделирование влияния толщины покровного слоя и адсорбции молекул на угол распространения в планарном поляризационном интерферометре / Е. Ф. Венгер, А. В. Гончаренко, С. Н. Завадский, Б. А. Снопок, Ю. В. Ушенин, Ю. М. Ширшов // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 1999. - Вып. 34. - С. 142-148. - Библиогр.: 9 назв. - рус.С использованием формализма матрицы рассеяния и условия поперечного синхронизма рассчитаны углы распространения волноводных мод в многослойной структуре кремний - оксид кремния - нитрид кремния - фосфоросиликатное стекло (ФСС) - адсорбированный слой молекул. Рассчитаны области существования волноводных мод и отклик разности фаз s- и p-поляризации на адсорбцию тонкого молекулярного слоя для разной толщины покровного слоя ФСС. Показано, что при возрастании толщины слоя ФСС от 0 до 200 нм адсорбционный отклик монотонно уменьшается, асимптотически приближаясь к нулю. Полученные результаты дают возможность оптимального выбора толщины защитного слоя. Індекс рубрикатора НБУВ: В343.41
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|