Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на продолжительность срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных светоизлучающих диодов в производстве. Индивидуальный срок службы каждого светоизлучающего диода из данной партии определен по двум измеренным значениям яркости с помощью эталонного графика, построенного по результатам испытаний относительно небольшого количества изделий.

The method of testing of phosphide-gallium light-emitting diodes on duration of life expectancy, considerably cutting time of a rejection of accident-sensitive light-emitting diodes in production is proposed. The individual life expectancy of each light-emitting diode from a sectional batch is defined on two measured values of luminosity with the help of the reference diagram, which is created by results of trials concerning small amount of hardware products.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"