Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000077671<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Павлюк С. П. Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С. П. Павлюк, Л. В. Ищук, В. М. Кислицын // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2004. - № 3. - С. 62-64. - Библиогр.: 10 назв. - рус.The possibility of using of the IR radiation from semiconductor for an express-diagnostics of the semiconductor diode quality was reasoned. The method of separation of the recombination and thermal radiaton components from the heated diod crystal was developed. We showed the possibility of selection of the diod crystal soldering conditions when the crystal surface was heated homogeneously using diod thermal radiation. Ключ. слова: тепловое поле, диод, диагностика, рекомбинация. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.1 + З852.2-07с
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|