Розглянуто проблеми якості та надійності напівпровідникових приладів і інтегральних мікросхем (ІМС). Описано автоматизовані методи та засоби контролю їх параметрів. Наведено інформацію про механізми раптових відмов діодів і біполярних транзисторів, металографічний аналіз, рентгенівську дефектоскопію, мас-спектрометричний контроль, вакуум-рідинний і компресійно-термічний методи контролю ІМС.

Рассмотрены проблемы качества и надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем (ИМС). Описаны автоматизированные методы и средства контроля их параметров. Приведена информация о механизмах внезапных отказов диодов и биполярных транзисторов, металлографическом анализе, рентгеновской дефектоскопии, масс-спектрометрическом контроле, вакуум-жидкостном и компрессионно-термическом методах контроля ИМС.

• Небеснюк Оксана Юріївна (технічні науки)
• Ніконова Зоя Андріївна (технічні науки)
• Ніконова Аліна Олександрівна (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"