Исследованы причины выхода из строя кристаллов полупроводниковых силовых диодов при прохождении через них импульсов ударного тока. Показано, что при токах меньше ударного сопротивление и надежность работы диода не изменяются. При ударном токе сопротивление диода увеличивается при каждом повторном импульсе. После прохождения нескольких импульсов диод выходит из строя, так как его прямое сопротивление увеличивается в 3 раза, а температура существенно превышает допустимую. Предложено объяснение наблюдаемых эффектов.

It was made the research of the rectifier diode direct resistance increases under the influence of the different number surge current single pulses. It was shown, that currents lower than surge current didn't change the resistance value.The work reliability of such a diode doesn't change.When the current value is equal to surge current the diode resistance begins to increase after each repeated impulse and after few pulses the diode breaks. At the same time its direct resistance increases approximately three times and the temperature essentially exceeds the allowable value.The observable effects are explained.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"