Карапетьян Г. Я. Измерение влияния магнитного поля на термоэдс в тонких пленках без создания градиента температур / Г. Я. Карапетьян, В. Ф. Катаев // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2006. - № 3. - С. 35-36. - Библиогр.: 5 назв. - рус.Рассмотрено влияние магнитного поля на систему "металл - диэлектрик - полупроводник - металл", образующую термоэлектрический конденсатор. Описан процесс зарядки и разрядки такого конденсатора в магнитном поле и без него. Показано, что напряжение на конденсаторе может меняться из-за изменения термоэдс под действием магнитного поля, что позволяет определить изменение термоэдс под действием магнитного поля без создания градиента температур. Process of charging thermoelectric capacitor which represents system of metal-semiconductor-isolator-metal, from a constant source of a voltage applied through resistor R, occurrence of the thermal electromotive force in such system and influence on this process of a magnetic field is considered. Change of the thermal electromotive force and coefficient Peltier in a cross magnetic field is measured. Ключ. слова: термо-эдс, измерения, микропленки, нанопленки Індекс рубрикатора НБУВ: З264.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|