Исследование воздействия быстрых электронов и нейтронов проведено на микросборках, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, у которых передаточная характеристика зависит от температуры. Обнаружена достаточно высокая стойкость основных параметров микросхем к такому воздействию. Показаны причины изменений некоторых параметров под действием названных излучений.

The research of influence fast electrons and neutrons is carried out on microassembly intended for measurement and stabilization of temperature of primary converters of not electrical quantities, at which the transfer characteristic depends on temperature. The high enough stability of the basic parameters of microcircuits to such influence is found out. The reasons of changes of some parameters under action of the named radiations are shown.

• Банзак Оксана Вікторівна (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"