РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000119719<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Колодий З. А 
Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы / З. А Колодий, О. Г. Крук, Ю. В. Саноцкий, В. Д. Голынский, А. З. Колодий, П. И. Депко // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2009. - № 1. - С. 10-14. - Библиогр.: 4 назв - рус.

Наведено результати комп'ютерного моделювання хаотичного руху елементарних частинок в плоскому прямокутнику, якому можна поставити у відповідність плівковий резистор з електронами провідності. Аналіз спектральної щільності хаотичного руху вказує, що один з параметрів флікер-шуму залежить від кількості елементарних частинок і середньої швидкості їх руху. Другий параметр флікер-шуму (час релаксації) залежить від особливостей внутрішньої структури системи. Це може бути використано для прогнозування надійності як окремих елементів електроніки, так і апаратури в цілому за рівнем їх флікер-шуму, який можна виміряти.

Приведены результаты компьютерного моделирования хаотического движения элементарных частиц в плоском прямоугольнике, которому можно поставить в соответствие пленочный резистор с электронами проводимости. Анализ спектральной плотности хаотического движения показывает, что один из параметров фликкер-шума зависит только от количества элементарных частиц и средней скорости их движения. Второй параметр фликкер-шума (время релаксации) зависит от особенностей внутренней структуры системы. Это может быть использовано для прогнозирования надежности как отдельных элементов электроники, так и аппаратуры в целом по измеренному уровню их фликкер-шума.

The results of computer design of chaotic motion of elementary particles are resulted in a flat rectangle which can be put in accordance to a pellicle resistor with the electrons of conductivity. The analysis of spectral closeness of chaotic motion shows that one of parameters of flicker-noise depends only on the amount of elementary particles and middle rate of their movement. The second parameter of flicker-noise (time of relaxation) depends on the features of underlying structure of the system. It can be used for prognostication of reliability as separate elements of electronics so apparatus as a whole on the measured level of their flicker-noise.


Ключ. слова: фликкер-шум, спектральная плотность флуктуаций, время релаксации
Індекс рубрикатора НБУВ: З841-017.2

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського