Методом измерения электросопротивления определены температуры кристаллизации <$E T sub X> быстроохлажденных лент разной толщины аморфного металлического сплава Fe80B20<20>. Показано, что значения <$E T sub X> лент толщиной 20 <$E mu> м в среднем на 16 - 18 K выше, чем для лент толщиной 43 <$E mu> м. Установлено, что эти различия обусловлены различиями концентрации зародышей <$E N sub q>, образующихся в процессе закалки. Разработана модель, основанная на концепции фиктивной температуры, проведен анализ влияния релаксации в расплаве на скорость зарождения и оценены значения параметров, при которых расчетные значения <$E T sub X> совпадают с измеренными. Хорошее согласие параметров модели и расчетных данных с экспериментальными результатами свидетельствуют о применимости разработанной модели для описания процесса кристаллизации расплава в условиях быстрой закалки.

• Рассолов Сергій Геннадійович (фізико-математичні науки)
• Попов Володимир Владиславович (медичні науки)
• Попов Віктор Вікторович (біологічні науки)
• Попов В'ячеслав Васильович (фізико-математичні науки)
• Попов Вячеслав Вячеславович (державне управління)
• Попов Віктор Васильович (1955–) (технічні науки)
• Попов Володимир Васильович (медичні науки)
• Попов Володимир В'ячеславович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"