Теоретически и экспериментально подтверждено, что результатом воздействия мощного микроволнового излучения на полупроводниковые диодные структуры в цепях СВЧ может стать качественное изменение вида их статических характеристик. В частности, возможно появление или исчезновение падающих участков с отрицательными сопротивлением или проводимостью, являющимися одной из причин обратимых отказов радиоэлектронных устройств на основе диодных структур.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"