РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000128081<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Гафнер Ю. Я. 
Компьютерное моделирование термического отжига в металлах при облучении ионами высоких энергий / Ю. Я. Гафнер, С. Л. Гафнер, В. Н. Удодов // Металлофизика и новейшие технологии. - 2002. - 24, № 9. - С. 1199-1213. - Библиогр.: 35 назв. - рус.

Запропоновано компьютерну модель, яка описує міграцію та взаємодію дефектів, що залишилися на поверхні металу після опромінення високоенергетичними іонами. У минулому, нагромадження дефектів під час опромінення охоплювалося, головним чином, у наближенні теорії хімічних коефіцієнтів, у якій кластери з дефектів обох сортів (вакансії та міжвузля) були нерухомі. Ця картина є занадто простою, для опису кінетики дефектів у каскаді, де утвориться безліч кластерів, що характеризуються різними властивостями. Альтернативним шляхом є комп'ютерне моделювання методом Монте-Карло, що дозволяє детально досліджувати точкові дефекти та їх комплекси. Дифузію кластерів ураховано цілком і вивчено роль одновимірного ковзання міжвузловинних кластерів, що дозволяє більш повно перевірити закономірності, які впливають на міграцію та взаємодію радіаційних дефектів.


Ключ. слова: ионное облучение, накапливание дефектов, одномерная миграция, PBM (production bias model), Монте-Карло
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.7в641.8 + К204.362

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського