Гафнер Ю. Я. Компьютерное моделирование термического отжига в металлах при облучении ионами высоких энергий / Ю. Я. Гафнер, С. Л. Гафнер, В. Н. Удодов // Металлофизика и новейшие технологии. - 2002. - 24, № 9. - С. 1199-1213. - Библиогр.: 35 назв. - рус.Запропоновано компьютерну модель, яка описує міграцію та взаємодію дефектів, що залишилися на поверхні металу після опромінення високоенергетичними іонами. У минулому, нагромадження дефектів під час опромінення охоплювалося, головним чином, у наближенні теорії хімічних коефіцієнтів, у якій кластери з дефектів обох сортів (вакансії та міжвузля) були нерухомі. Ця картина є занадто простою, для опису кінетики дефектів у каскаді, де утвориться безліч кластерів, що характеризуються різними властивостями. Альтернативним шляхом є комп'ютерне моделювання методом Монте-Карло, що дозволяє детально досліджувати точкові дефекти та їх комплекси. Дифузію кластерів ураховано цілком і вивчено роль одновимірного ковзання міжвузловинних кластерів, що дозволяє більш повно перевірити закономірності, які впливають на міграцію та взаємодію радіаційних дефектів. Ключ. слова: ионное облучение, накапливание дефектов, одномерная миграция, PBM (production bias model), Монте-Карло Індекс рубрикатора НБУВ: В372.7в641.8 + К204.362
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|