Олиховская Л. А. Определение характеристик ансамбля планарных дефектов в монокристаллах системы Bi - Sr - Ca - Cu - O по дифракционным данным. 1. Хаотичное распределение дефектов / Л. А. Олиховская, А. И. Устинов, О. В. Федорова // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - 25, № 4. - С. 453-470. - Библиогр.: 27 назв. - рус.За методом Какінокі - Комури змодельовано розподіли інтенсивності рентгенівських променів, розсіяних монокристалами з номінальним складом <$E roman {Bi sub 2 Sr sub 2 Ca} sub m-1 {roman Cu} sub m {roman O} sub {4+2m+ delta}> (<$E m> = 1, 2, 3), що містять структурні фрагменти (планарні дефекти), укладка атомних шарів в яких відрізняється від укладки в базовій структурі. Показано значний вплив на інтенсивності та положення дифракційних піків не тільки типу і концентрації планарних дефектів, але й співвідношення <$E c"/"l sub d> між параметром c гратки базової структури та розміром <$E l sub d> дефектів уздовж цієї осі. Встановлено наявність дифракційних піків, взаємне розташування яких за змін концентрацій планарних дефектів не залежить від значення <$E c"/"l sub d>. На цій базі запропоновано метод визначення концентрації планарних дефектів у таких кристалах за невідомих значень c і <$E l sub d>. Ключ. слова: метод Какиноки - Комуры, планарные дефекты, дифракционные пики Індекс рубрикатора НБУВ: К202.1
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|