Сукач А. В. Особенности распределения основных носителей заряда на границе диффузионных InAs p - n-переходов / А. В. Сукач, Г. С. Олейник, В. В. Тетеркин, А. Т. Ворощенко, В. И. Лукьяненко, Т. П. Нужная // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 2003. - Вып. 38. - С. 127-133. - Библиогр.: 20 назв. - рус.С помощью метода низкотемпературной диффузии кадмия в подложки InAs n-типа проводимости с последующей термообработкой в парах мышьяка при более высоких температурах изготовлены p - n-переходы и исследованы их электрофизические свойства. Получены экспериментальные доказательства формирования областей с разной степенью компенсации, расположенных вблизи металлургической границы p - n-переходов, а также оценены их электрофизические параметры. Показано, что в интервале температур 77 - 105 K профиль концентрации основных носителей заряда в области с меньшей степенью компенсации является однородным и при температурах 132 - 217 K - линейным. Предложена равновесная энергетическая диаграмма InAs p - n-перехода с компенсированной областью. Індекс рубрикатора НБУВ: З843.35
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|