З використанням методів рентгенівської дифрактометрії (з допомогою квазізаборонених рефлексів) досліджено багатошарові структури InxGa1-xAs/GaAs та AlxGa 1-xAs/GaAs з квантовими ямами, одержані за допомогою методу молекулярно-пучкової епітаксії. Проаналізовано можливість контролю варіацій складу твердого розчину в шарах. Вивчено вплив товщини та складу на формування спектрів кривих дифракційного відбиття рентгенівських променів.

Ключ. слова: квазизапрещенные отражения, структурный фактор, рентгеновская дифрактометрия, многослойные квантовые структуры
Індекс рубрикатора НБУВ: Ж363-1с3

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Кладько Василь Петрович (1957–) (фізико-математичні науки)
• Мачулін Володимир Федорович (1950–2014) (фізико-математичні науки)
• Литвин Петро Мар'янович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"