Драненко А. С. Толщинная зависимость параметров микроструктуры в квазикристаллических тонких пленках дисилицида хрома / А. С. Драненко, Л. А. Дворина, О. И. Гетьман // Металлофизика и новейшие технологии. - 2001. - 23, № 11. - С. 1465-1471. - Библиогр.: 8 назв. - рус.За допомогою комп'ютерного аналізу зображень визначено лінійні, об'ємні та конфігураційні параметри мікроструктури, одержаної методом електронної мікроскопії на просвіт, тонких плівок CrSi2, які складаються з кристалічної та аморфної фаз. Зі зростанням товщини плівки лінійні розміри кристалітів, їх об'ємна частка збільшуються, а середня міжчастинкова відстань і питоме число частинок зменшуються. За цих умов відбувається еволюція мікроструктури від матричного до матрично-статистичного типу, обумовлена явищами рекристалізації в процесі осадження плівки, коалесценції дискретних острівців кристалітів та "спікання" контактуючих частинок. Ключ. слова: микроструктура, тонкая пленка, силицид, кристаллическая фаза, эволюция Індекс рубрикатора НБУВ: К225.026
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|