З використанням золь-гель процесів синтезовано ксерогелі на основі фосфоросилікатної матриці, що наповнена наноалмазами. Особливості кристалічної структури та фрактальної агрегації вихідних нанопорошків вивчено методами широко- та малокутового розсіяння рентгенівських променів (ШКРРП і МКРРП відповідно). На основі таких ксерогелів одержано протонпровідні нанокомпозитні матеріали для паливних елементів. Установлено, що дані ШКРРП наноалмазних наповнювачів виявляють картини дифракції, характерні для графітизованих ультрадисперсних наноалмазів або для очищених наноалмазів. Графіки залежності логарифма інтенсивності малокутового розсіяння від логарифма хвильового вектора вказують на наявність мультирівневої фрактальної структури типу поверхневий фрактал/масовий фрактал. З використанням графіків цього типу розраховано характеристики фрактальної структури - значення фрактальної розмірності та радіуси обертання фрактальних агрегатів. Залежність протонної провідності від частоти показали високі значення провідності, які знижуються зі зростанням вмісту наноалмазного наповнювача в нанокомпозитах.

• Шилов Валерій Васильович (1941–2005) (хімічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"