Моисеева Г. А. Анализ возможности управления комплексным коэффициентом отражения многослойной структуры, содержащей полупроводники, в миллиметровом диапазоне длин волн / Г. А. Моисеева // Системи оброб. інформації. - 2006. - Вип. 9. - С. 62-65. - Библиогр.: 7 назв. - рус.Проведен анализ многослойной структуры, содержащей один или несколько полупроводниковых слоев. Получены основные математические соотношения, позволяющие предъявить требования к основным параметрам многослойных структур, обеспечивающим управление их отражательными характеристиками. Ключ. слова: многослойная структура, полупроводниковый слой Індекс рубрикатора НБУВ: З843.3
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж70474 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Наукова періодика України
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|