Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000157393<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Шпак А. П. Аналітичний опис дифузних піків на профілях трикристальної рентгенівської дифрактометрії від монокристалів з мікродефектами / А. П. Шпак, В. Б. Молодкін, С. Й. Оліховський, Є. М. Кисловський, О. В. Решетник, Т. П. Владімірова, Р. І. Барабаш, Д. О. Григор'єв // Металлофизика и новейшие технологии. - 2005. - 27, № 9. - С. 1223-1236. - Бібліогр.: 20 назв. - укp.Аналітичні вирази для опису інтенсивности піків дифузного розсіяння від мікродефектів різних типів з врахуванням інструментальних особливостей трикристального дифрактометра (ТКД) виведено з формул узагальненої динамічної теорії розсіяння рентгенівських променів в реальних монокристалах. Проведено вимірювання і аналіз профілів ТКД та двокристальної рентгенівської дифрактометрії від монокристалів кремнію з мікродефектами, визначено характеристики цих мікродефектів. Ключ. слова: трикристальний рентгенівський дифрактометр, динамічна теорія розсіяння, монокристал, мікродефекти, дифузне розсіяння, дифракційний профіль Індекс рубрикатора НБУВ: В372
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|