Существенно неоднородный характер распределения микродефектов в бездислокационных монокристаллах установлен путем последовательных измерений полной интегральной отражательной способности в различных условиях дифракции рентгеновского излучения, т.е. для различных объемов монокристалла, освещаемых пучком. В каждом случае дифракции количественное определение статистических характеристик дефектов выполнено для освещаемого объема при использовании динамической теории для монокристаллов с хаотически распределенными в объеме (в том числе и крупными) микродефектами и с нарушенным поверхностным слоем (НПС). Для учета присутствия на поверхности монокристалла остаточного нарушенного слоя предложена обобщенная модель НПС, применимая и в случаях, когда толщины НПС превышают длину экстинкции.

• Молодкін Вадим Борисович (1941–) (фізико-математичні науки)
• Когут Михайло Тихонович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"