Клим Г. Дослідження об'ємних дефектів у діелектричній алюмомагнієвій кераміці методом позитронної анігіляційної спектроскопії / Г. Клим, А. Інграм, О. Шпотюк, М. Ваків // Вісн. Нац. ун-ту "Львів. політехніка". - 2006. - № 558. - С. 92-97. - Бібліогр.: 22 назв. - укp.Розглянуто методологічні можливості застосування методу позитронної анігіляційної спектроскопії (ПАС) для дослідження об'ємних дефектів в діелектричній алюмомагнієвій кераміці шпінельного типу MgAl2O4. Показано, що при математичній обробці ПАС спектра комп'ютерною програмою LT найкращі значення параметрів підгонки досягаються у ході трикомпонентної процедури. Одержані результати підтверджують існування багатьох об'ємних дефектів у формі індивідуальних вакансій, вакансійно-подібних кластерів, нейтральних та негативно заряджених кластерів зарядно-компенсаційних вакансій, розміщених на границях зерен, а також об'ємних пор, що здатні захоплювати атоми позитронію. Індекс рубрикатора НБУВ: Л428-1с + В379.347
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж29409/А Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|