Описано новий метод прогнозування випадкових помилок параметрів кривої потенціометричного титрування за відомими випадковими помилками вимірювання потенціалу (або pX) і дозування об'єму титранту. Метод дозволяє за окремим титруванням оцінити роздільно вплив помилок вихідних даних (V і E) на результати титрування.
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"